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功率器件分析仪

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产品描述

参数

1、设备功能

适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IGBT单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等十九大类半导体分立器件全静态参数测试

2、运行条件

温度：25±5℃

相对湿度：<60%，在/或低于30℃

通风条件：设备四面距离墙面大于5cm

交流电源：220V±10%，47-63Hz，良好的测试仪器接地

3、外形尺寸

尺寸（mm）：480（宽）* 530（长）*285（高）

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半导体分立器件静态测试系统

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