热门关键词：晶体管测试仪 晶体管图示仪 碳化硅器件测试仪 SiC器件测试仪 双脉冲测试仪 电压耐量测试设备 门极绝缘栅单元触发器实验仪
半导体器件雪崩测量及功率循环试验系统
功率器件测试系统功率循环对各种功率器件进行功率循环老化试验，模拟器件在不同功率工况下的退化情 况，通过加热与冷却过程的控制，对封装、沟道 或者内部键合丝进行热疲劳试验。功率循环试验系统适用范围：适用于各种封装的IGBT模块、SiC模块、二极管模块等进行PCsec、PCmin、K Factor、Rth/Zth、SOA、瞬 态热阻曲线试验。
发布时间：
2025-03-14
来源：
功率器件测试系统
功率器件测试系统功率循环对各种功率器件进行功率循环老化试验，模拟器件在不同功率工况下的退化情 况，通过加热与冷却过程的控制，对封装、沟道 或者内部键合丝进行热疲劳试验。
功率循环试验系统适用范围：适用于各种封装的IGBT模块、SiC模块、二极管模块等进行PCsec、PCmin、K Factor、Rth/Zth、SOA、瞬 态热阻曲线试验。
• 测试通道：12
• 最大测试电流 1800A
• 最大电压 48V
• 最大试验温度 200°℃
• 栅极控制电压 ±15V
• 测试电流分辨率 10m
半导体,功率,器件
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