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分立器件静态测试系统
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分立器件静态测试系统

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产品描述
参数

■主要技术参教

系统主要技术参数列表如下:

主极电压          2000V(加选件可扩展至3300V)

主极电流          50A(加选件可扩展到100A至2500A)

控制极电压        20V(加选件可扩展到80V)

控制极电流        10A(加选件可扩展到40A)

电压分辨率        1mV

电流分辨率        100pA(加选件可扩展到1pA)

测试速度          5ms/参数 3300V、2500A以上可订制

■可测试器件种类

该系统是专为测试大功率半导体分立器件而设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下19个类型的半 导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列:

器件测试种类

二极管

DIODE

稳压(齐纳)二极管

ZENER

晶体管

TRANSISTOR (NPN/PNP)

单向可控硅(普通晶闸管)

SCR

双向可控硅(双向晶闸管)

TRIAC

金属-氧化物-半导体场效应管

MOSFET (N-CH/P-CH)

结型场效应管

JFET (N-CH/P-CH)

三端稳压器

REGULATOR]正电压/负电压,固定/可变)

绝缘栅双极大功率晶体管

IGBT (N-CH/P-CH)

光电耦合器

OPTO-COUPLER ( NPN/PNP)

达林顿阵列器件

DARLINTON

光电开关管

OPTO-SWITCH

继电器

RELAY (A, B, C型)

金属氧化物压变电阻

MOV

压变电阻

VARISTOR

智能功率模块

IPM

集成功率模块

PIM

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