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分立器件测试仪

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分立器件测试仪

分立器件测试仪主要技术参数分立器件测试仪系统主要技术参数列表如下：主极电压 2000V(加选件可扩展至3300V)

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分立器件测试仪主要技术参数

分立器件测试仪系统主要技术参数列表如下：

主极电压 2000V(加选件可扩展至3300V)

主极电流 50A(加选件可扩展到100A至2500A)

控制极电压 20V(加选件可扩展到80V)

控制极电流 10A(加选件可扩展到40A)

电压分辨率 1mV

电流分辨率 100pA(加选件可扩展到1pA)

测试速度 5ms/参数

3300V、2500A以上可订制

可测试器件种类

该系统是专为测试大功率半导体分立器件而设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下19个类型的半

导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列：

器件测试种类

二极管	DIODE
稳压（齐纳）二极管	ZENER
晶体管	TRANSISTOR(NPN/PNP)
单向可控硅（普通晶闸管）	SCR
双向可控硅（双向晶闸管）	TRIAC
金属－氧化物－半导体场效应管	MOSFET(N-CH/P-CH)
结型场效应管	JFET(N-CH/P-CH)
三端稳压器	REGULATOR(正电压／负电压，固定／可变）
绝缘栅双极大功率晶体管	IGBT(N-CH/P-CH)
光电耦合器	OPTO-COUPLER(NPN/PNP)
达林顿阵列器件	DARLINTON
光电开关管	OPTO-SWITCH
继电器	RELAY(A,B,C型）
金属氧化物压变电阻	MOV
压变电阻	VARISTOR
智能功率模块	IPM
集成功率模块	PIM