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半导体分立器件测试系统

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产品描述
参数

功能及主要参数:
  KEW3500-2KV-400A柜机主要满足中小功率半导体分立器件全静态参数的测试。此设备控制极电压为80V,可满足控制极电压等级较高的MOS管的测试需求,同时也具备400A以内各种分立器件静态参数的测试。  400A柜机的设计,从空间节省及设备挪运方面更为方便快捷。 
  系统主要技术参数:
  主极电压:2000V
  主极电流:400A
  控制极电压:80V
  控制极电流:10A  
  电压分辨率:1mV
  电流分辨率:100pA
  测试速度:5ms/参数
产品优势
  此设备解决控制极电压为80V,可满足控制极电压等级较高的MOS管的测试需求,同时也具备400A以内各种分立器件静态参数的测试。

可测试器件种类:

       该系统是专为测试大功率半导体分立器件而设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确的测试以下19个类型的半导体器件组成的组合器件、器件阵列:

       二极管、稳压(齐纳)二极管、晶体管、单向可控硅(普通晶闸管)、双向可控硅(双向晶闸管)、金属-氧化物-半导体场效应管、结型场效应管、三端稳压器、绝缘栅双极大功率晶体管、光电耦合器、达林顿阵列器件、光电开关管、继电器、金属氧化物压变电阻、压变电阻、智能功率模块以及集成功率模块。

关键词:
{商品名称}
浪涌电流测试仪
功率器件浪涌电流测试仪
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