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半导体分立器件测试系统

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半导体分立器件测试系统

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产品描述

参数

功能及主要参数：
　　KEW3500-2KV-400A柜机主要满足中小功率半导体分立器件全静态参数的测试。此设备控制极电压为80V，可满足控制极电压等级较高的MOS管的测试需求，同时也具备400A以内各种分立器件静态参数的测试。　　400A柜机的设计，从空间节省及设备挪运方面更为方便快捷。
　　系统主要技术参数：
　　主极电压：2000V
　　主极电流：400A
　　控制极电压：80V
　　控制极电流：10A
　　电压分辨率：1mV
　　电流分辨率：100pA
　　测试速度：5ms/参数
产品优势
　　此设备解决控制极电压为80V，可满足控制极电压等级较高的MOS管的测试需求，同时也具备400A以内各种分立器件静态参数的测试。

可测试器件种类：

该系统是专为测试大功率半导体分立器件而设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确的测试以下19个类型的半导体器件组成的组合器件、器件阵列：

二极管、稳压（齐纳）二极管、晶体管、单向可控硅（普通晶闸管）、双向可控硅（双向晶闸管）、金属-氧化物-半导体场效应管、结型场效应管、三端稳压器、绝缘栅双极大功率晶体管、光电耦合器、达林顿阵列器件、光电开关管、继电器、金属氧化物压变电阻、压变电阻、智能功率模块以及集成功率模块。

关键词:

{商品名称}

浪涌电流测试仪

功率器件浪涌电流测试仪

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