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SiC 功率器件动态参数测试系统

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SiC 功率器件动态参数测试系统

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产品描述

参数

1.测试产品：Sic FRD,MOSFET(兼容Si基产品)

2. 测试能力：

2.1. 开关时间测试

测试条件： ID：1A～200A, VDS：5V～3500V, VGS：-10V～20V, Rg：手动可调，

　　　　　　　　　阻性，感性负载可切换。

测试参数: td(on)\ tr\ td(off)\tf：0.1nS -200nS， Eon\Eoff：10uJ~100mJ

2.2. 反向恢复特性测试

测试条件：IF：1A～200A , VR：5V～3500V, di/dt：50A/us～10000A/us

测试参数: trr：0.1nS -200nS,Qc：1nC~100uC, Irm：1A~200A , Erec：0.1uJ～1mJ

2.3. 栅极电荷测试

测试条件： VDS：5V～3500V，ID：1A～200A, VGS：-10V～20V

测试参数： Qgon、Qgd、Qgs：1nC~100uC，Vpl：-10V～20V

2.4. 短路电流测试

测试条件：Pulse width：1us～100us, VDS：5V～3500V

测试参数： Peak ID：10A~1000A, Delta Vds：10V~200V

3.控制界面

上位机使用Labview界面开发，该程序体现为人机交互界面，作为测试平台的交互系统，通过与示波器、主控板等设备通讯，实现对设备的自动远程操作并指示示波器进行数据采集、在界面上复现示波器的测试波形、并对测试波形进行分析、计算，最终得到结果进行显示和存储。

关键词:

{商品名称}

{商品分类名称}

功率器件测试设备

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