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IGBT动态参数测试系统

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半导体分立器件动态测试系统是全智能高速测试系统，可用于1200V/1700V/3300V的IGBT模块开通时间、关断时间、快恢复二极

管反向恢复时间、反向电流及反向恢复电荷的测试，通过示波器采集波形，由计算机处理数据并显示测量结果。

通过配置不同的夹具单元，可实现对不同封装器件的测试。

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