热门关键词：晶体管测试仪 晶体管图示仪 碳化硅器件测试仪 SiC器件测试仪 双脉冲测试仪 电压耐量测试设备 门极绝缘栅单元触发器实验仪
半导体分立器件测试系统
3300V、2500A以上可订制 ■半导体分立器件测试系统主要技术参教 半导体分立器件测试系统系统主要技术参数列表如下：
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半导体分立器件测试系统
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产品描述
3300V、2500A以上可订制
■半导体分立器件测试系统主要技术参教
半导体分立器件测试系统系统主要技术参数列表如下：
主极电压 2000V（加选件可扩展至3300V）
主极电流 50A（加选件可扩展到100A至2500A）
控制极电压 20V（加选件可扩展到80V）
控制极电流 10A
电压分辨率 1mV
电流分辨率 100pA（加选件可扩展到1pA）
测试速度 5ms/参数
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