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大功率分立器件测试系统

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大功率分立器件测试系统

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KEW3500测试主机与HCD大电流台选件链接成测试系统，可测试IGBT参数包括了 ICES、BVCES、IGESF、IGESR、

VGETH、VGEONs VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流参数，所有小电流指标保证1 %重复测试精度，大电流指标保证2% 以内重复测试精度。阳极可扩展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。

针对目前封装的多单元IGBT特征，根据用户需要提供4/8/20单元扫描测试适配器，从而实现多单元封装器件的一次性全参数测试。

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