热门关键词：晶体管测试仪 晶体管图示仪 碳化硅器件测试仪 SiC器件测试仪 双脉冲测试仪 电压耐量测试设备 门极绝缘栅单元触发器实验仪
大功率分立器件测试系统
KEW3500测试主机与HCD大电流台选件链接成测试系统
关键词：
器件
电流
指标
封装
所属分类：
静态参数测试夹具
大功率分立器件测试系统软件
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产品描述
KEW3500测试主机与HCD大电流台选件链接成测试系统，可测试IGBT参数包括了 ICES、BVCES、IGESF、IGESR、
VGETH、VGEONs VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流参数，所有小电流指标保证1 %重复测试精度，大电流指标保证2% 以内重复测试精度。阳极可扩展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。
针对目前封装的多单元IGBT特征，根据用户需要提供4/8/20单元扫描测试适配器，从而实现多单元封装器件的一次性全参数测试。
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