热门关键词:晶体管测试仪 晶体管图示仪 碳化硅器件测试仪 SiC器件测试仪 双脉冲测试仪 电压耐量测试设备 门极绝缘栅单元触发器实验仪
产品描述
功能及主要参数:
与KEW3500-2KV-50A主机连接使用,可完成1µA以下漏电流的智能化精密测试,稳定延迟设定时间最长可达98ms。
产品优势
可以使测试电流分辨率从原来的100nA达到10pA与BR3500测试主机构成的测试系统,可完成1uA以下漏电流的智能化精密测试,稳定延迟设定时间最长可达98ms。
适用于:
J-FET、MDS和二、三极管等器件的IGSS、IBCO、IR等漏电流参数。
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