带你全面了解功率开关器件双脉冲测试

双脉冲测试仪双脉冲测试(Double Pulse Test)是分析功率开关器件动态特性的常用测试，通过双脉冲测试可以便捷的评估功率器件的性能，获得稳态和动态过程中的主要参数，更好的评估器件性能，优化驱动设计等等。 虽然功率半导体器件的手册上会有参数标注，但这些参数都是在标准测试条件下得到的。使用IGBT或者MOSFET做逆变器的工程师如果不加以测试，而直接在标定的工况下跑看能否达到设计的功率，无法全面了解器件性能，进而影响产品长期可靠性。又或者设计裕量过大带来成本增加，使得产品的市场竞争力下降。 如果能在设计研发阶段，精准地了解器件的开关性能，将对整个产品的优化带来极大的好处。比如能在不同的电压、电流和温度下获得开关损耗，给系统仿真提供可靠的数据;又比如可以通过观察波形振荡情况来选择合适的门极电阻。 ITECH作为功率半导体测试领域的领先供应商，为双脉冲测试提供多种先进电源产品。 ❏ 双脉冲测试平台 测试设备 1.高压电源:IT6700H/IT6018C-1500-40/IT-M3906C-1500-122.电容组3.负载电感4.示波器5.高压差分电压探头(1000:1)6.电流探头7可编程信号发生器或IT2806高精密源测量单元/源表/SMU

双脉冲测试流程: STEP 1 在t0时刻，被测IGBT的门极接收到第一个脉冲，被测IGBT导通，母线电压U加在负载电感L上，电感上的电流线性上升，I=U*t/L； IGBT关断前的t1时刻，电感电流的数值由U和L决定；在U和L都确定时，电流的数值由IGBT开启的脉宽T1决定，开启时间越长，电流越大； 执行点：通过改变脉冲宽度的大小，自主设定电流的数值。

STEP 2 t1到t2之间，IGBT关断，此时负载的电流L的电流由上管二极管续流，该电流缓慢衰减； t1时刻，IGBT关断，因为母线杂散电感Ls的存在，会产生一定的电压尖峰； 关注点：在该时刻，重点是观察IGBT的关断过程，电压尖峰是重要的监控对象。

STEP 3 在t2时刻，被测IGBT 再次导通，续流二极管进入反向恢复状态，反向恢复电流会穿过IGBT，此时电流探头所测得的Ic为FRD反向电流与电感电流叠加，产生电流尖峰； 重点观察：IGBT的开通过程，电流峰值是重要的监控对象，同时应注意观察栅极波形是否存在震荡现象。