晶合集成取得晶体管测试方法

晶体管测试仪该晶体管测试方法包括：向待测晶体管的栅极施加工作电压，将待测晶体管的源极接地，根据施加于待测晶体管漏极的第一测试电压与第一测试电压作用下的第一测试电流的变化关系，得到第一电流‑电压特性曲线；继续向栅极施加工作电压，将漏极接地，根据施加于源极的第二测试电压与第二测试电压作用下的第二测试电流的变化关系

发布时间：

2024-11-06

来源：

晶体管测试仪

^{晶体管测试仪该晶体管测试方法包括：向待测晶体管的栅极施加工作电压，将待测晶体管的源极接地，根据施加于待测晶体管漏极的第一测试电压与第一测试电压作用下的第一测试电流的变化关系，得到第一电流‑电压特性曲线；继续向栅极施加工作电压，将漏极接地，根据施加于源极的第二测试电压与第二测试电压作用下的第二测试电流的变化关系，得到第二电流‑电压特性曲线；将第一电流‑电压特性曲线和第二电流‑电压特性曲线进行对比得到差异度，当差异度超出预设阈值时，判定待测晶体管存在异常。该晶体管测试方法能够全面地对待测晶体管是否存在缺陷进行检测，防止含缺陷晶体管的芯片流出，以提升产品良率。}

晶体管测试仪