IGBT功率循环试验系统适用范围：适用于各种封装的IGBT模块、SiC模块、二极管模块等进行PCsec、PCmin、K Factor、Rth/Zth、SOA、瞬态热阻曲线试验

IGBT功率循环试验系统技术特点：高精度和高稳定性，可替代国外设备；

                     采样速率1MHz/s；最快1us去掉加热电流

                      支持双界面热阻测试和结构函数测试

                     支持多种方式实现SiC器件功率循环

IGBT功率循环试验系统系统组成：可以进行秒级和分钟级的功率循环试验，可以工作在恒流模式、恒功率模式、恒结温差模式、恒壳温差模式。

IGBT功率循环试验系统基础功能：1、整机可以测试12个元件，4个元件串联一起组成一组

                 2、被测试元件分别固定在水冷板上（可选2/3块液冷板）

                 3 、12路Vge隔离电源、3套测试电流IM（双向）、12套高精度VF电压测量装置、12路Ige电流测试等

                 4、多种失效分析判定条件

                 5、支持瞬态热阻曲线、SOA

                 6、支持全过程VF曲线、曲线拟合、降温曲线、结构函数-积分曲线

                 7、支持多种方式实现SiC器件的功率循环，最小PCsec可达0.5s

IGBT功率循环试验系统监控参数：IH、Ige、Vge、Vce、Rth、Delta Tj、Tc及液冷平台进出水口温度、水流量、器件的压力F（压接型器件）、Ton、Toff、试验周期数等

IGBT功率循环试验系统数据记录：试验全程记录每个试验通道的ICE、VCE@IH、VCE@IM、IGE、VGE、Rthjc、F、ON\OFFTime、循环数、Delta Tj、Tjmax、Tjmin等参数。液冷平台的进出水口温度，制冷机的水温，器件的壳温、水流量等，可记录数≥1000000次。

IGBT功率循环试验系统符合IEC-60749、AQG-324等试验标准要求

陕西开尔文测控技术有限公司主营：雪崩测试仪、晶体管测试仪、CNAS测试服务、三极管测试仪、IGBT功率循环试验系统、电压耐量测试设备、碳化硅器件测试仪、分立器件测试仪、分立器件综合参数测试仪、半导体分立器件测试系统、特大功率IGBT测试系统、浪涌测试仪、分立器件静态参数测试系统、分立器件动态参数测试系统、分立器件动态参数测试仪、IGBT静态参数测试系统，以产品性价比高、可测器件种类多且参数齐全、测试精度高、速度快、保护性强、故障率低、软件丰富、操作使用方便、售后服务及时周到。