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参数

　　功能及主要参数：

　　此设备采用开路电压衰减法设计，开路电压衰减法是测试少子寿命的一种方法。适合于测量PN结参杂区的少子寿命。被测的PN结P侧和N侧要分别形成欧姆接触。(测试的前题是必须形成PN结和欧姆接触)。　　测试PN结两端的电压波形，即可反映少子寿命的变化情况。

　　少子寿命测试范围：100nS—1mS;

　　测试样品规格：Φ6—Φ75;

　　少子寿命测试重复性：≤2%;

　　测试形式：自动测试;

　　测试方法：开路电压衰减法;

　　产品优势

　　少子寿命测试是长基区少子寿命对器件的特性有一定的影响。通过监测少子寿命分析器件内部问题，对改善器件设计和工艺有一定的参考价值。

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