光耦测试仪失效解决方法

如果光耦测试仪IC失效，一旦打开设备，设备会出现低功耗、闪烁、无电源、电源不稳定，甚至断电的现象。

许多技术人员和工程师不知道他们可以用模拟万用表来测试光电耦合器。用模拟仪表进行测试的方法大多是非集成电路。由于我们已经从原理图中了解了光耦引脚，测试这种集成电路与测量普通的双极晶体管和led完全相同。

为了准确检查光隔离IC，请使用模拟万用表。使用1x和10K欧姆范围测试led。它应该有两个方向的读数。如果有2个读数，则LED短路。当检测正常二极管时，测试方法相同。LED主要内部连接光耦IC的引脚1和引脚2。要检查光电晶体管，需要将电表设置为1欧姆范围的倍数，将黑色的探针放在晶体管的底座上，将红色的探针放在集电极和发射电极上。它应该显示两个相似的读数。然后将黑色探针移到集电极，红色探针移到晶体管的基极和发射极。它不应该记录任何读数。将黑色探针放在发器上，红色探针放在晶体管的底座和集电极上。同样，它不应该在万用表中记录任何读数。

现在将您的仪表选择器转到10K欧姆的倍数来测量晶体管的集电极和发器。它应该在一个方向上没有读数，而在另一个方向上有轻微读数。这意味着仪表的指针将从模拟仪表的无限刻度上移一点。如果你得到两个读数，光耦测试仪是错误的。

如果你想了解更多关于任何光耦测试仪IC内部的信息，我建议你搜索百度光半导体进入官方网站提交选择表格，以获得正确的数据表。从图中，更容易描述光电耦合器IC的输出是光电晶体管、光电二极管、可控硅还是可控硅类型。一旦了解了集成电路内部的组件类型，就可以对集成电路应用必要的测试方法。

目前，光耦测试仪、继电器、光耦测试仪等先进光半导体产品主要用于:存储系统。智能电表。自动检测设备。电信设备。测量仪器。医疗设备。通信设备。电脑。安全监控。O /设备。PLC控制器。I/O控制面板，依托光半导体集成设计技术和芯片制造技术的优势，先进的光半导体有望在光电控制领域拥有广阔的发展前景，逐步提高产品的技术附加值，拓展具有较高技术含量的产品线。