光耦测试仪产品介绍

光耦测试仪是针对各种4英尺三极管型光电耦合器的功能和参数而设计的，其良好的中文界面软件，简化了用户对的操作和编程，提供了快速的测试条件和测试参数，存储在EEPROM中。此外，操作仪器不需要额外的软件或特殊培训。

光耦测试仪提供输入正向压降(VF)和输出反向电阻(ICEO)，电压电阻BVCEO，传动比(CTR)，适用于各种三极管式四脚光耦合的主要测试参数，并对参数“通过/拒绝”(OK/NO)进行测试，并可任意设置测试条件，测试正压降和输出电流可达1 a，用户可通过键盘在机器上，它便于EEPROM中输入的测试条件和参数块的设置，方便了以后方便快捷的开放式调用。

自动模式:自动检测DUT是否放置在测试座上。如果将DUT放置在测试座上，则会自动进入重复测试状态。否则将处于重复测试状态。手动模式:刚开始测试不进行时，屏幕空白为正常现象。当按下测试开关时，测试座内的DUT将自动被测试。如果测试开关未松开，将重复测试;如果测试被释放，测试将自动停止。

光耦测试仪基于大型微处理器设备，当用户选择设定型号时，在手动测试时，按下测试开关，使试验机开始执行功能测试，自动测试过程中会在的测试座内检测到DUT短路、开路或误接现象，如发现，立即停止测试。功能测试主要是为了保护DUT不受由于型号选择错误而导致的坏组件的影响。

现在许多电子设备在它们的电路中使用光耦测试仪。光耦合或有时被称为光隔离器，允许两个电路交换信号，但保持电气隔离。这通常是用光来传输信号。标准的光电耦合器电路设计使用发光二极管(led)在光电晶体管上照明，通常是NPN晶体管而不是PNP晶体管。信号被应用到LED上，然后发光在集成电路中的晶体管上。

光耦测试仪与信号成正比，因此信号被传输到光电晶体管。光耦合器也可以在一些模块中提供，如可控硅、光电二极管、用于其他半导体开关的双向晶闸管作为输出，以及白炽灯、霓虹灯或其他光源。我还在NEC打印机的电源中发现了两个led和两个光电晶体管。在这篇文章中，我将只解释常用的光耦合器，即led和光电晶体管的组合。