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• 发布时间：2021-08-06
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【概要描述】半导体分立器件测试系统KEW3500柜机和台机均为陕西开尔文测控技术有限公司自主研发的设备。该系统产品为供方引进的合作技术项目，功率电源等方面采用新的航天技术做了改进，各项技术指标同于最新进口美国产品，测试稳定、可靠性高于进口产品，故障率明显低于进口产品，代表了目前国际先进技术水平。此次大批量顺利交机，再一次证明了陕西开尔文测控有限公司在该领域的先进技术与过硬品质，也大大提高了在业内的知名度。
此次交机中，开尔文测控的技术研发团队亲自前往惠州、武汉、辽宁与三家公司的领导以及工程师们进行了现场详细、耐心地讲解和设备仪器的具体操作方法，这不仅加强了双方技术层面的交流，还牢固了双方在合作上的密切关系，更是对中国科技发展的强烈促进，也是对陕西开尔文测控技术有限公司的认可。
半导体分立器件测试系统KEW3500适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IBGT单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等十九大类半导体分立器件全静态参数测试。