热门关键词：晶体管测试仪 晶体管图示仪 碳化硅器件测试仪 SiC器件测试仪 双脉冲测试仪 电压耐量测试设备 门极绝缘栅单元触发器实验仪
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第三代半导体SiC功率器件动态AC全参数测试系统研发成功并投入使用
- 分类：发展历程
- 作者：
- 来源：
- 发布时间：2016-10-11
- 访问量：0
【概要描述】第三代半导体SiC功率器件动态AC全参数测试系统研发成功并投入使用
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KEW新型半导体器件研究实验室成立
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