KEW-TR500稳态热阻测试仪技术方案

发布时间：

2020-10-29

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KEW-TR500 是由陕西开尔文测控技术有限公司研发的功率 MOS 器件热特性测试仪，适用于各种功率 MOS 器件工作温升和热阻构成的测量。具有精确、无损伤、测试便捷、测试成本低等优点，是器件封装工艺、可靠性研究和测试的强大支持工具。使用该仪器能帮助您有效降低产品故障率，获取器件热特性，进行不合格器件筛选等。

应用范围：

N 沟道功率 MOS 器件热特性分析

P 沟道功率 MOS 器件热特性分析

该热特性测试仪，采用全新的测量理念，拥有友好的人机操作界面，较高的数据处理能力，相比传统热电偶、红外成像等测试手段，其能有效测量器件纵向热阻，具有精确、无损伤、测试便捷、测试成本低等优点。利用结构函数（Structure Function）分析法能方便快捷地测得 HEMT 器件热传导路径上每层结构的热学性能，构建等效热学模型，是器件封装工艺、可靠性研究和测试的强大支持工具。使用该仪器能帮助您有效降低产品故障率，获取器件热特性，进行不合格器件筛选等。

应用范围：

肖特基栅结构场效应晶体管热特性分析

对肖特基栅结构场效应晶体管散热不合格产品筛选

为肖特基栅结构场效应晶体管封装设计提供实验数据

功能：肖特基栅结构半导体场效应晶体管芯片热阻测

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