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功率器件正向寿命实验系统

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功率器件正向寿命实验系统

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产品描述

参数

符合标准：

符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等实验标准要求

适用范围：

适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFT、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验

技术特点：

1、在试验的过程中实时测量样品的结温，并显示结温差

2、采用模块化设计，每个模块是一个独立试验单元，每个模块有独立的实验腔体，真正做到板与板之间完全独立，每个试验单元的风道互不影响

3、在调试模式下，无论是开通状态还是关断状态下，均可以每隔一秒采集一次结温Tj，描绘出完整的温度变化曲线，可以防止在寻找试验条件是损坏器件

4、三极管的试验线路采用共基极试验线路，更能满足宇航级产品的试验要求

5、设备上可配置K系数测试装置

上一个

碳化硅二极管浪涌测试台

下一个

无

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