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功率器件正向寿命实验系统
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功率器件正向寿命实验系统

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产品描述
参数

符合标准:

符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等实验标准要求

适用范围:

适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFT、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验

技术特点:

1、在试验的过程中实时测量样品的结温,并显示结温差

2、采用模块化设计,每个模块是一个独立试验单元,每个模块有独立的实验腔体,真正做到板与板之间完全独立,每个试验单元的风道互不影响

3、在调试模式下,无论是开通状态还是关断状态下,均可以每隔一秒采集一次结温Tj,描绘出完整的温度变化曲线,可以防止在寻找试验条件是损坏器件

4、三极管的试验线路采用共基极试验线路,更能满足宇航级产品的试验要求

5、设备上可配置K系数测试装置

 

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