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晶体管直流参数测试仪

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参数

  1、设备功能

  适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IGBT单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等多种类半导体分立器件全静态参数测试。

  

 

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