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少子寿命

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产品描述
参数

  功能及主要参数:

  此设备采用开路电压衰减法设计,开路电压衰减法是测试少子寿命的一种方法。适合于测量PN结参杂区的少子寿命。被测的PN结P侧和N侧要分别形成欧姆接触。(测试的前题是必须形成PN结和欧姆接触)。  测试PN结两端的电压波形,即可反映少子寿命的变化情况。

  少子寿命测试范围:100nS—1mS;

  测试样品规格:Φ6—Φ75;

  少子寿命测试重复性:≤2%;

  测试形式:自动测试;

  测试方法:开路电压衰减法;

  产品优势

  少子寿命测试是长基区少子寿命对器件的特性有一定的影响。通过监测少子寿命分析器件内部问题,对改善器件设计和工艺有一定的参考价值。

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