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开尔文测控半导体分立器件测试系统-软件

开尔文测控半导体分立器件测试系统-软件

  • 分类:新闻资讯
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2022-03-28
  • 访问量:0

【概要描述】器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为WindowsXP或Windows7/8的PC机上的KEW3500接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成,具有全屏显示和增强型编辑帮助。

开尔文测控半导体分立器件测试系统-软件

【概要描述】器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为WindowsXP或Windows7/8的PC机上的KEW3500接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成,具有全屏显示和增强型编辑帮助。

  • 分类:新闻资讯
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  • 来源:
  • 发布时间:2022-03-28
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器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为WindowsXP或Windows7/8的PC机上的KEW3500接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成,具有全屏显示和增强型编辑帮助。

一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下,输入所选器件系列名称和测试类型,并选择所需测试的参数,而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间,非常快捷方便。

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