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半导体分立器件测试系统测试范围-开尔文

半导体分立器件测试系统测试范围-开尔文

  • 分类:新闻资讯
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2022-03-15
  • 访问量:0

【概要描述】陕西开尔文测控技术有限公司半导体分立器件测试系统是专为测试半导体分立器件而设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列

半导体分立器件测试系统测试范围-开尔文

【概要描述】陕西开尔文测控技术有限公司半导体分立器件测试系统是专为测试半导体分立器件而设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列

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本系统是专为测试半导体分立器件而设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列:

1) 二极管                          DIODE  

2) 晶体管                          TRANSISTOR(NPN型/PNP型)

3) 稳压(齐纳)二极管              ZENER  

4) 结型场效应管                    J-FET (N-沟/P-沟,耗尽型/增强型)

5) MOS场效应管                    POWER MOSFET(N-沟/P-沟)

6) 三端稳压器                      REGULATOR(正电压/负电压,固定/可变)

7) 光电耦合器                      OPTO-COUPLER(NPN型/PNP型)

8) 可控硅整流器(普通晶闸管)      SCR

9) 双向可控硅 (双向晶闸管)       TRIAC

10) 绝缘栅双极大功率晶体管         IGBT

11) 继电器                         RELAY(A,C型)

12) 压变电阻                       VARISTOR

13) 达林顿阵列                     DARLINTON

KEW3500测试系统测试范围为1-13大项二十三个分类

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