半导体分立器件测试系统是本公司推出的一种先进的半导体分立器件测试系统。该系统充分吸收国外同类产品的优点，使用了已经验证的最新功率源和阵列开关结构设计，并选用优质材料制作。在设计、选材、工艺、制作、调试、效验等方面都有所突破，从而大大提高了系统的技术性能和可靠性。

    产品充分考虑到国内广大用户的需求，可以对十三大类二十三个分类的分立器件进行参数测试。其特点是：系统功能强大、功率范围广、精度高、速度快、测试结果真实准确、并有良好的一致性和重复性。系统软件稳定可靠、硬件故障率低、操作简单。系统在实际应用中能够准确实现手册技术指标。

    系统在测试技术和适用性方面均已达到世界先进水平，产品技术先进、性能稳定，有很高的性价比。

    本系统属于半导体分立器件自动测试系统，适合工厂、研究所做元器件筛选检验以及器件生产厂用做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以大大提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。

    系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试及结果的准确可靠。

    系统面板的显示装置能够及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱开主控计算机独立完成多种测试。

    系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

    优良的品质、低廉的价格、周到的服务大大提高了本系统竞争实力。